测量原理
利用光弹调制器调控入射激光的偏振态，使其在左旋圆偏振态、线偏振态及右旋偏振态之间连续转变。利用锁相放大器分别测量基频和二倍频频率处的光电信号，进而获的磁圆二向色性及磁光克尔转角信号。样品台上的电学连接通道使得我们在进行磁光克尔测量同时，可对样品进行电压或电流调控。
图1 低温显微磁光克尔测量原理图
测量条件
磁场强度：0-2.3T
磁场方向：极向
测量温度：5-300K
测量精度：20μRad
波长范围：520-880nm
电学配件：可施电压或电流
空间分辨率：5μm
样品形貌：二维材料、薄膜
样品尺寸：面积> 5μmÍ5μm
厚度：单原子层及以上
图2 样品示意图（系统配备有电学测量附件，可同时开展光学和电学测量）
典型数据
低温显微磁光克尔测量系统可以无接触地探测微尺度磁性材料（特别是二维磁性材料）及其异质结器件的磁性信息。通过做变温磁光克尔测量，可以获得材料的居里温度，矫顽场及交换偏置等重要参数；通过做变波长测量可以获得电子态密度分布对材料磁性的影响；通过做空间分辨磁光克尔扫描测量，可以获取材料在不同空间位置处的磁性信息。图3是二维FePSe3/Fe3GeTe2范德华异质结样品在激光冲击加压处理后的磁滞回线，可以观测到明显的交换偏置现象。
图3 FePSe3/Fe3GeTe2中交换偏置效应[Nat. Commun. 14, 2190 (2023)]
相关文献
1. Adv. Mater. 32, 2002032 (2020). J. B. Han, et al.
2. ACS Nano 16, 12437 (2022), J. B. Han, et al.
3. Nat. Commun. 14, 2190 (2023), J. B. Han, et al.
联系人
韩俊波(Email: junbo.han#mail.hust.edu.cn，#换成@)
