土木学院胡元太团队揭示机械加载对压电半导体结构能带的调控规律
发布时间:2019.11.19

来源:土木工程与力学学院 编辑:向梦丹 浏览次数:

新闻网讯 11月7日,材料科学及物理学领域TOP期刊Nano Energy(IF:15.548)在线发表了我校土木工程与力学学院胡元太教授课题组题为“Tuning electronic energy band in a piezoelectric semiconductor rod via mechanical loading” 的最新研究成果。我校博士生杨万里为第一作者,胡元太教授和美国Akron大学Pan Ernian教授为论文通讯作者。


ZnO和GaN等宽带隙半导体被广泛用于压电电子/光电器件中,由于这类材料兼备压电性和半导体特征,所以通过机械加载或施放应力波可以影响其能带结构,从而实现对器件性能的有效调控。



胡元太等从力电多场耦合与载流子的交互作用分析出发,首先得到了压电半导体结构的压电势、形变与载流子之间的非线性耦合作用关系,进而基于8阶Hamiltonian矩阵方法,将形变势能和电势能引入导带与价带能级,由此揭示了变形与压电势场等对结构导带和价带能级(CB,HH,LH和SO)的作用规律,为实现机械加载或弹性波动调控压电电子/光电器件的性能提供了理论基础。研究表明,外部载荷或弹性波在其作用区域附近的局部范围内所诱发的压电势场和变形场最为明显,即该区域内的形变势能与电势能最大,意味着外场在该域对导带和价带能级的影响最为强烈,调控效果最为明显。研究发现,随着载荷增加,载流子再分布所产生的对压电势场的屏蔽效应趋强,导致外场对能带的影响减弱,并最终趋于平缓状态。此外,研究还发现,随着压力的增加,GaN比ZnO压电半导体结构中的重空穴带与轻空穴带容易出现反转,即从HH>LH反转为LH>HH,这些可能导致实际偏离非简并状态。


该工作得到了国家自然科学基金和湖北省重点实验室项目的支持。


文章链接:https://authors.elsevier.com/c/1a12k7soS7u1S3

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