九五国际测试会议综述

【期数】：1996年05期

【作者】：杨莲兴;任俊彦;肖平

【摘要】： 由IEEE计算机协会测试技术委员会和IEEE费城分部联合主办的九五国际测试年会(95’ITC),于1995年10月21日—26日在美国华盛顿举行。与会的有2500余人。这是在系统测试、PCB测试和IC测试方面最重要的国际会议之一。会议包括四部分:第一部分为Tu-torials,有16个Tutorial;第二部分为会议报告,分46个Session,宣读论文125篇;第三部分为专题讨论;第四部分为展览会。展览会上有86个厂商展出了他们最先进的测试设备和测试软件。这次会议一个比较中心的议题是可测性设计。从目前发展情况看,设计与测试是两个不可分割的统一体,测试一定要在设计阶段就有所考虑,并在设计时"埋入"测试部件。测试用来检测一个电路的好坏和性能,同时用以解决故障检测和故障定位问题。测试通常可分为两个主要方面,即测试产生和测试验证。